Сканирующие микроскопы позволяют получать изображения поверхности материала с большим разрешением (меньше микрометра). Получаются трехмерные изображения, которые удобны в анализе структуры сканированных поверхностей. С помощью дополнительных методик (WDX, EDX) можно получать сведения о химическом составе приповерхностного слоя.
Принцип работы устройств
Проводится сканирование образцов в промышленном ваккуме с помощью сфокусированного электронного пучка средних энергий. Исходя из механизма определения сигнала, выделяют несколько режимов функционирования микроскопа:
- Режим вторичных электронов.
- Режим отраженных электронов.
- Режим катодолюминесценции.
С помощью разработанных методов можно обследовать свойства поверхности, визуализировать и получить данные о свойствах структур, распложенных на расстоянии нескольких микрон от сканируемой поверхности.
Разрешение оборудования зависит от поперечного размера пучка электронов, который определяется параметрами электронно-оптической системы. Также разрешение ограничивается сферой взаимодействия зонда с образцом.
В зависимости от принципа взаимодействия образца и зонда, выделяют атомно-силовые, электронные и ближнепольные микроскопы. Более интересным считается ближнепольный сканирующий микроскоп, работающий в видимом излучении. Из возможных механизмов образования контраста можно отметить поляризацию, поглощение, отражение, люминесценцию и пр. Таких возможностей нет в атомно-силовой и электронной микроскопии. Также световой микроскоп считается бюджетным, неразрушающим оборудованием для исследований, которое позволяет работать с медицинскими и биологическими препаратами в естественных средах.
Что дает сканирующий микроскоп?
С помощью такого оборудования получается детальная топография поверхности анализируемого образца. Образуются изображения, которые можно разделить на:
- Образующиеся посредством вторичных электронов.
- Образующиеся благодаря рентгеновскому излучению.
- Сформированные от обратно рассеянных электронов.
Для эффективного применения оборудования следует знать их комплектации. Для их работы требуется много усилий. Для их применения требуется создание вакуума, что усложняет технологический процесс изготовления сканирующих микроскопов.
Также для работы таких устройств требуется помещение, где отсутствуют электромагнитные излучения.
Достоинства конфокальной сканирующей микроскопии
При сравнении методики со световой микроскопией, сканирующая имеет высокое разрешение, глубину резкости. Сканирующая микроскопия позволяет получать трехмерное изображение анализируемого объекта, всвязи с упрощенной интерпретацией полученной информации.
К оборудованию можно подключать дополнительные устройства для анализа полученной информации. Также можно исследовать рельефные и объемные объекты.
Современное оборудование отличается автоматизированной оптикой высшего качества, с помощью которых исследователи получают точные результаты. Также к нему можно подсоединять анализаторы (аналитические приставки) для точного морфологического анализа исследуемого объекта.
Сканирующие микроскопы используются в материаловедении, физике, биологии, электронике.
В компании Арстек предлагается оборудование высшего качества по доступным ценам. Предоставляются квалифицированные консультации по выбору подходящих устройств.
Комментарии